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郵箱:17600738803@163.com
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online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升級STS 。 操作簡單,可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。
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在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產(chǎn)線上,實現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量。 LIVE實時輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異常點發(fā)出警報。實時記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析??梢酝ㄟ^在系統(tǒng)中增加偏光感應(yīng)器來擴(kuò)展測量的寬度。
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online雙折射測量儀KAMAKIRI W 適用于薄膜等生產(chǎn)線上,實現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量 LIVE實時輸出雙折射的信息 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異常點發(fā)出警報 操作簡單,可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布 實時記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。 可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應(yīng)器來擴(kuò)展測量的寬度。
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歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應(yīng)力測量設(shè)備,其高速相機(jī)CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合,研制在線雙折射/殘余應(yīng)力測量儀,世界上僅有online雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供,廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領(lǐng)域。
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雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。
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ME-210-T膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置,這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜,也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù),將不能變?yōu)榭赡埽酝募夹g(shù)是無法測量0.5mm厚的玻璃基板,在這項技術(shù)下,可進(jìn)行極薄膜的高精度測量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估,也可運用ME-210-T輕松達(dá)成。