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歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應(yīng)力測量設(shè)備，其高速相機(jī)CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合，研制在線雙折射/殘余應(yīng)力測量儀，世界上僅有online雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供，廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領(lǐng)域。 -
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。 -
ME-210-T膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置，這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù)，將不能變?yōu)榭赡埽酝募夹g(shù)是無法測量0.5mm厚的玻璃基板，在這項技術(shù)下，可進(jìn)行極薄膜的高精度測量，舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估，也可運用ME-210-T輕松達(dá)成。