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ME-210-T膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置,這個裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜,也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù),將不能變?yōu)榭赡?,以往的技術(shù)是無法測量0.5mm厚的玻璃基板,在這項技術(shù)下,可進(jìn)行極薄膜的高精度測量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估,也可運(yùn)用ME-210-T輕松達(dá)成。
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膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置,這個裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜,也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù),將不能變?yōu)榭赡?,以往的技術(shù)是無法測量0.5mm厚的玻璃基板,在這項技術(shù)下,可進(jìn)行極薄膜的高精度測量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估,也可運(yùn)用ME-210-T輕松達(dá)成。
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